(MTBF)壽命測試

2022-01-24   ?   Orange

壽命試驗(MTBF)是一種研究產(chǎn)品壽命特征的方法,可以在實驗室模擬各種使用條件。壽命試驗是可靠性試驗中重要的基礎項目之一,是在特定的試驗條件下檢查產(chǎn)品的故障(損壞),隨時間變化規(guī)律。通過壽命試驗,我們可以了解產(chǎn)品的壽命特征、故障規(guī)律、故障效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)的各種故障模式。如果結(jié)合故障分析,可以進一步了解導致產(chǎn)品故障的主要故障機制,作為可靠性設計、可靠性預測、提高新產(chǎn)品質(zhì)量、確定合理篩選、定期(批量保證)試驗條件的依據(jù)。如果為了縮短試驗時間,可以在不改變故障機制的情況下,通過增加應力的方法進行試驗,即加速壽命試驗。通過壽命試驗,可以評估產(chǎn)品的可靠性水平,并通過質(zhì)量反饋提高新產(chǎn)品的可靠性水平。在適當?shù)墓ぷ鳁l件下,設備的使用壽命很低。電子元器件的使用壽命與常用溫度密切相關。壽命試驗(MTBF)分為定時截尾試驗和定數(shù)截尾試驗。估計方法為:平均壽命點估計值、單側(cè)置信下限估計、雙側(cè)區(qū)間估計。

高溫工作壽命試驗 高溫壽命試驗為利用溫度及電壓加速的方法,藉短時間的實驗來評估IC產(chǎn)品的長時間操作壽命.一般常見的壽命實驗方法有BI(Burn-in) / EFR(Early Failure Rate) / HTOL(High Temperature Operating Life) / TDDB(Time dependent ***lectric Breakdown),對于不同的產(chǎn)品類別也有相對應的測試方法及條件,如HTGB(High Temperature Gate Bias) / HTRG(High Temperature Reverse Bias) / BLT(Bias Life Test) / Intermittent Operation Life等。 低溫工作壽命試驗 低溫操作壽命試驗為利用低溫及電壓加速的方法,評估該組件于低溫環(huán)境操作下的壽命。 溫度工作壽命檢測能力 GJB899-2009

壽命試驗有哪些用途?

通過壽命試驗,我們可以了解產(chǎn)品的壽命特征、故障規(guī)律、故障效率、平均壽命以及在壽命試驗過程中可能出現(xiàn)的各種故障模式。例如,結(jié)合故障分析,可以進一步了解導致產(chǎn)品故障的主要故障機制,作為可靠性設計、可靠性預測、提高新產(chǎn)品質(zhì)量、確定合理篩選、定期(批量保證)試驗條件的依據(jù)。如果為了縮短試驗時間,可以在不改變故障機制的情況下,通過增加應力進行試驗,這是加速壽命試驗。


(MTBF)壽命測試(圖1)


MTBF測試申請流程:

1.客戶填寫服務申請表:填寫產(chǎn)品名稱、型號、公司名稱及地址。

2.報價:根據(jù)產(chǎn)品和客戶要求的測試條件或標準進行評估。

3.樣品:具體情況。

4.測試條件:提供測試條件和標準,如果不能提供,我公司可以**。

5.報告確認:測試完成后,向客戶確認報告草稿,無問題出正本。

6.結(jié)案:付款。

以上就是關于認證的相關內(nèi)容,如果您有這方面需要了解或檢測的,可以來電13632500972,我們會根據(jù)您的具體產(chǎn)品給到您最好的解決方案。


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