在手機的設(shè)計、生產(chǎn)和市場推廣過程中，會進(jìn)行哪些可靠性測試？通過各種測試對手機的可靠性進(jìn)行驗證和分析。在設(shè)計和定型前，對手機進(jìn)行鑒定和測試，以驗證手機是否符合規(guī)定的可靠性指標(biāo)。批量生產(chǎn)的手機交付使用時，應(yīng)通過驗收試驗驗收手機的可靠性。在手機使用階段，為了了解手機使用的可靠性水平，應(yīng)進(jìn)行手機試用試驗?？梢钥闯?，可靠性測試貫穿于手機的整個壽命?？煽啃詼y試是評估手機可靠性的重要手段。
影響產(chǎn)品可靠性的極其重要的因素是環(huán)境。環(huán)境因素多種多樣：溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風(fēng)、雷、電、鹽霧、砂塵、振動、沖擊、噪聲、電磁輻射等，都不可避免地對電子產(chǎn)品產(chǎn)生不良影響。
可靠性測試包括六個部分：加速壽命測試，氣候適應(yīng)測試，結(jié)構(gòu)耐久測試，表面裝飾測試，特殊條件測試，及其他條件測試。
1.1. 加速壽命測試ALT (Accelerated Life Test)
樣機標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：
PR1：8臺 PR2：10臺 PR3：10臺 PIR：10臺；
試驗周期： 10-12天；
測試目的： 通過連續(xù)的施加各種測試條件，加速產(chǎn)品的失效，提前暴露潛在問題。
試驗流程： 見下圖，其中Thermal Shock 和1st Drop測試的時間間隔應(yīng)不超過4小時;Temp/Humidity和2nd Drop測試的時間間隔應(yīng)不超過4小時。每項測試完成都應(yīng)進(jìn)行表面，外觀，結(jié)構(gòu)和功能檢查。
測試標(biāo)準(zhǔn)：參數(shù)指標(biāo)正常，功能正常。
1.1.1 室溫下參數(shù)測試 (Parametric Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C)；
測試目的： 測試預(yù)檢查；
測試方法：使用8960/8922測試儀，參照附件1(下同)項目列表，對所有樣品進(jìn)行參數(shù)指標(biāo)預(yù)測試并保存測試結(jié)果；
測試標(biāo)準(zhǔn)：參數(shù)指標(biāo)正常，功能正常。
1.1.2 溫度沖擊測試(Thermal Shock)
測試環(huán)境：低溫箱：-30° C ;高溫箱：+10° C；
測試目的：通過高低溫沖擊進(jìn)行樣品應(yīng)力篩選；
試驗方法：使用高低溫沖擊箱，手機帶電池，設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)先放置于高溫箱內(nèi)持續(xù)45分鐘后，在15秒內(nèi)迅速移入低溫箱并持續(xù)45分鐘后，再15秒內(nèi)迅速回到高溫箱。此為一個循環(huán)，共循環(huán)21次。實驗結(jié)束后將樣機從溫度沖擊箱(高溫箱)中取出，恢復(fù)2小時后進(jìn)行外觀、機械和電性能檢查。對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機表面噴涂無異變，結(jié)構(gòu)無異常，功能正常，可正常撥打電話。
1.1.3 跌落試驗(Drop Test)
測試條件：1.5m高度，20mm厚大理石地板。(對于PDA手機,根據(jù)所屬公司質(zhì)量部門的建議可調(diào)整為跌落高度為1.3m)；
測試目的： 跌落沖擊試驗；
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)進(jìn)行跌落。對于直握手機，進(jìn)行6個面的自由跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為1次，每個面跌落之后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對于翻蓋手機，進(jìn)行8個面的自由跌落實驗;其中一半樣品合上翻蓋按直握手機的方法進(jìn)行跌落，另一半樣品在跌正面和背面時須打開翻蓋;對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。跌落結(jié)束后對外觀、結(jié)構(gòu)和功能進(jìn)行檢查。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求。
1.1.4 振動試驗(Vibration Test)
測試條件：振幅：0.38mm/振頻：10~30Hz;振幅：0.19mm/振頻：30~55Hz；
測試目的： 測試樣機抗振性能；
試驗方法：將手機開機放入振動箱內(nèi)固定夾緊。啟動振動臺按X、Y、Z三個軸向分別振動1個小時，每個軸振完之后取出進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。三個軸向振動試驗結(jié)束后，對樣機進(jìn)行參數(shù)測試；
試驗標(biāo)準(zhǔn)：振動后手機內(nèi)存和設(shè)置沒有丟失現(xiàn)象，手機外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求，參數(shù)測試正常，晃動無異響。
1.1.5 濕熱試驗(Humidity Test)
測試環(huán)境：60° C，95%RH；
測試目的： 測試樣機耐高溫高濕性能；
試驗方法：將手機處于關(guān)機狀態(tài)，放入溫濕度實驗箱內(nèi)的架子上，持續(xù)60個小時之后取出，常溫恢復(fù)2小時，然后進(jìn)行外觀、結(jié)構(gòu)和功能檢查。對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)和功能符合要求。
1.1.6 靜電測試(ESD)
測試條件：+/-4kV~+/-8kV；
測試目的： 測試樣機抗靜電干擾性能；
試驗方法：
將樣機設(shè)置為開機狀態(tài)，檢查樣機內(nèi)存和功能。(內(nèi)存10條短信息和10個電話號碼;使用功能正常)。將樣機放于靜電測試臺的絕緣墊上，并且用充電器加電使手機處于充電狀態(tài)(樣機與絕緣墊邊緣距離至少2英寸;兩個樣機之間的距離也是至少2英寸)。
打開靜電模擬器，調(diào)節(jié)放電方式，分別選擇+/-4kV(接觸放電)，~+/-8kV(空氣放電)，對手機指定部位連續(xù)放電10次，并對地放電。每做完一個部位的測試，檢查手機功能、信號和靈敏度，并觀察手機在測試過程中有無死機，通信鏈路中斷，LCD顯示異常，自動關(guān)機及其他異常現(xiàn)象。
樣機需在與8922測試儀建立起呼叫連接的狀態(tài)下進(jìn)行各個放電方式、級別和極性的測試。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：在+/-4Kv 和 +/-8Kv時出現(xiàn)任何問題都要被計為故障；
備注：靜電釋放位置的確定要依據(jù)產(chǎn)品的具體情況進(jìn)行定義。
1.1.1室溫下參數(shù)測試 (Parametric Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C)；
測試目的： 測試結(jié)束后參數(shù)對比；
測試方法：使用8960/8922測試儀，對所有樣品進(jìn)行參數(shù)指標(biāo)測試；
測試標(biāo)準(zhǔn)：所有附件1中參數(shù)指標(biāo)正常，功能正常。
1.2.氣候適應(yīng)性測試 (Climatic Stress Test)
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：一般氣候性測試 4 臺; 惡劣氣候性測試 2 臺。共8臺；
測試周期：1 天；
測試目的： 模擬實際工作環(huán)境對產(chǎn)品進(jìn)行性能測試；
一般氣候性測試 惡劣氣候性測試
A： 一般氣候性測試：
1.2.1.高溫/低溫參數(shù)測試(Parametric Test)
測試環(huán)境：-10° C /+55° C
測試目的：高溫/低溫應(yīng)用性性能測試
試驗方法：將手機電池充滿電，手機處于開機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上，調(diào)節(jié)溫度控制器到-10° C /+55° C。持續(xù)2個小時之后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能參數(shù)和功能檢查。對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機電性能參數(shù)指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。
測試環(huán)境：+45° C，95%RH
測試目的：高溫高濕應(yīng)用性性能測試
試驗方法：將手機電池充滿電，手機處于開機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)48個小時之后，然后在此環(huán)境下進(jìn)行電性能檢查，檢查項目見附表1。對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。
1.2.3.高溫/低溫功能測試(Functional Test)
測試環(huán)境：-40° C /+10° C
測試目的：高溫/低溫應(yīng)用性功能測試
試驗方法：將手機處于關(guān)機狀態(tài)，放入溫度實驗箱內(nèi)的架子上。持續(xù)24個小時之后，取出，并放置2小時，恢復(fù)至常溫，然后進(jìn)行結(jié)構(gòu)，功能和電性能檢查。對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機電性能指標(biāo)滿足要求，功能正常，外殼無變形。
B：惡劣氣候性測試。
1.2.4.灰塵測試(Dust Test)
測試環(huán)境：室溫
測試目的：測試樣機結(jié)構(gòu)密閉性
試驗方法：將手機關(guān)機放入灰塵實驗箱內(nèi)?；覊m大小300目，持續(xù)3個小時之后，將手機從實驗箱中取出，用棉布和離子風(fēng)槍清潔后進(jìn)行檢查。對于翻蓋手機，應(yīng)將一半樣品合上翻蓋，一半樣品打開翻蓋;對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機各項功能正常，所有活動元器件運轉(zhuǎn)自如，顯示區(qū)域沒有明顯灰塵。
1.2.5.鹽霧測試(Salt fog Test)
測試環(huán)境：35° C
測試目的：測試樣機抗鹽霧腐蝕能力
試驗方法：
溶液含量：5%的氯化鈉溶液。
將手機關(guān)機放在鹽霧試驗箱內(nèi)，合上翻蓋，樣機用繩子懸掛起來，以免溶液噴灑不均或有的表面噴不到。
樣機需要立即被放入測試箱。實驗周期是48個小時。實驗過程中樣機不得被中途取出，如果急需取出測試，要嚴(yán)格記錄測試時間，該實驗需向后延遲相同時間。
取出樣機后，用棉布和離子風(fēng)槍清潔，放置48小時進(jìn)行常溫干燥后，對其進(jìn)行外觀、機械和電性能檢查。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機各項功能正常，外殼表面及裝飾件無明顯腐蝕等異?，F(xiàn)象。
1.3.結(jié)構(gòu)耐久測試 (Mechanical Endurance Test)
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：11 臺。
測試周期：1 天。
測試流程：
測試標(biāo)準(zhǔn)：
1.3.1.按鍵測試(Keypad Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：按鍵壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
測試方法：將手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上，導(dǎo)航鍵及其他任意鍵進(jìn)行10萬次按壓按鍵測試。進(jìn)行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。實驗中被測試的鍵的選擇根據(jù)不同機型進(jìn)行確定并參考工程師的建議，應(yīng)盡量不重復(fù)，盡可能多。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機按鍵彈性及功能正常。
1.3.2.側(cè)鍵測試(Side Key Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：側(cè)鍵壽命測試
測試數(shù)量：1臺手機
測試方法：將手機設(shè)置成關(guān)機狀態(tài)固定在測試夾具上，對側(cè)鍵進(jìn)行10萬次按壓按鍵測試。進(jìn)行到3萬次、5萬次、8萬次、10萬次時各檢查手機按鍵彈性及功能一次。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：手機按鍵彈性及功能正常。
1.3.3.翻蓋測試(Flip Life Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：翻蓋壽命測試
測試數(shù)量：4臺手機。
測試方法：將手機設(shè)置成開機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進(jìn)行5萬次開合翻蓋測試。進(jìn)行到3萬次、4萬次、4. 5萬次 、5萬次時進(jìn)行手機翻蓋彈性及功能一次。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：5萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常。
1.3.4.滑蓋測試(Slide Life Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：滑蓋壽命測試
測試數(shù)量：4臺手機。
測試方法：將手機設(shè)置成開機狀態(tài)，固定在測試夾具上，進(jìn)行5萬次滑蓋測試。進(jìn)行到3萬次、4萬次、4. 5萬次 、5萬次時進(jìn)行手機滑蓋手感及功能一次。
試驗標(biāo)準(zhǔn)：5萬次后，手機外觀，結(jié)構(gòu)，及功能正常,滑蓋不能有松動(建議:垂直手機時不能有自動下滑的現(xiàn)象)
1.3.5. 重復(fù)跌落測試(Micro-Drop Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);1cm高度 ,20mmPVC板
測試目的：樣機跌落疲勞測試
測試數(shù)量：2臺。
測試方法：手機處于開機狀態(tài)，做手機正面及背面的重復(fù)跌落實驗，每個面的跌落次數(shù)為20,000次。進(jìn)行到1萬次、1.5萬次、1.8萬次、2萬次時各檢查對手機進(jìn)行外觀、機械和電性能的中間檢查。
測試標(biāo)準(zhǔn)：手機各項功能正常，外殼無變形、破裂、掉漆，顯示屏無破碎，晃動無異響。
1.3.6. 充電器插拔測試(Charger Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：充電器插拔]壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將充電器接上電源，連接手機充電接口，等待手機至充電界面顯示正常后，拔除充電插頭。在開機不插卡狀態(tài)下插拔充電3000次。進(jìn)行到2000次、2500次和3000次時進(jìn)行中間/結(jié)束檢查一次。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：I/O接口無損壞，焊盤無脫落，充電功能正常。無異常手感。
1.3.7.筆插拔測試(Stylus Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：手機手寫筆插拔壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，筆插在手機筆插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)20，000次。進(jìn)行到1萬次、1萬5千次、1萬8千次、2萬次時檢查手機筆插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆是否正常。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機筆輸入功能正常，插入拔出結(jié)構(gòu)功能、外殼及筆均正常。
1.3.8點擊試驗 (Point Activation Life Test)
試驗條件：觸摸屏測試儀(接觸墊尖端半徑為3.15mm;硬度為40deg的硅樹脂橡膠)
測試目的：觸摸屏點擊壽命測試
樣品數(shù)量：1臺
試驗方法：將手機設(shè)置為開機狀態(tài)，點擊LCD的中心位置250,000次，點擊力度為250g;點擊速度：2次/秒;
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：不應(yīng)出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象;表面不應(yīng)有損傷
1.3.9劃線試驗 (Lineation Life Test)
試驗條件：觸摸屏測試儀，直徑為0.8mm的塑料手寫筆或隨機附帶的手寫筆
測試目的：觸摸屏劃線疲勞測試
樣品數(shù)量：1臺
試驗方法：將手機設(shè)置為關(guān)機狀態(tài)，在同一位置劃線至少100,000次，力度為250g;
滑行速度：60mm/秒
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：不應(yīng)出現(xiàn)電性能不良現(xiàn)象;表面不應(yīng)有損傷
1.3.10.電池/電池蓋拆裝測試(Battery/Battery Cover Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：電池/電池蓋拆裝壽命測試
測試數(shù)量：2臺。
試驗方法：將電池/電池蓋反復(fù)拆裝2000次。進(jìn)行到1500次、1800次和2000次時檢查手機及電池/電池蓋各項功能、及外觀是否正常。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機及電池卡扣功能正常無變形，電池觸片、電池連接器應(yīng)無下陷、變形及磨損的現(xiàn)象，外觀無異常。
1.3.11. SIM Card 拆裝測試(SIM Card Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：SIM卡拆裝壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：插上SIM卡，然后取下SIM卡，再重新裝上，反復(fù)1000次，每插拔100次檢查開機是否正常，讀卡信息正常。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：SIM卡觸片、SIM卡推扭開關(guān)正常，手機讀卡功能使用正常。
1.3.12. 耳機插拔測試(Headset Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：耳機插拔壽命測試
測試數(shù)量：2臺手機。
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，耳機插在耳機插孔內(nèi)，然后拔出，反復(fù)3000次。進(jìn)行到2000、2500次和3000次時各檢查一次。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：實驗后檢查耳機插座無焊接故障，耳機插頭無損傷，使用耳機通話接收與送話無雜音(通話過程中轉(zhuǎn)動耳機插頭)，耳機插入手機耳機插孔時不會松動(可以承受得住手機本身的重量)。
1.3.13.導(dǎo)線連接強度試驗(Cable Pulling Endurance Test--Draft)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：導(dǎo)線連接強度測試
實驗方法：選取靠近耳塞的一段導(dǎo)線，將其兩端固定在實驗機上，用10N±1N的力度持續(xù)拉伸6秒，循環(huán)100次。(其它造型的導(dǎo)線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù))
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常。被覆外皮不破裂，變形。
1.3.14.導(dǎo)線折彎強度試驗(Cable Bending Endurance Test--Draft)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：導(dǎo)線折彎疲勞測試
實驗方法：分別選取靠近耳塞和靠近插頭的一段導(dǎo)線，將導(dǎo)線的兩端固定在實驗機上，做0mm~25mm做折彎實驗3000次。(其它造型的導(dǎo)線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù))
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常被覆外皮不破裂，變形。
1.3.15.導(dǎo)線擺動疲勞試驗(Cable Swing Endurance Test--Draft)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：導(dǎo)線擺動疲勞測試
實驗方法:分別將耳機和插頭固定在實驗機上，用1N的力， 以180°的角度反復(fù)擺動耳機末端3000次。(其它造型的導(dǎo)線可采納工程師的建議來確定循環(huán)次數(shù))
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：導(dǎo)線功能正常被覆外皮不破裂。
1.4 表面裝飾測試 (Decorative Su***ce Test)
測試周期：4 天。
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：每種顏色6 套外殼。
測試流程：
1.4.1.磨擦測試(Abrasion Test - RCA)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：印刷/噴涂抗摩擦測試
試驗方法：將最終噴樣品涂固定在RCA試驗機上，用115g力隊同一點進(jìn)行摩擦試驗。每隔50次檢查樣品的表面噴涂。對于表面摩擦300cycles，側(cè)棱摩擦150 Cycles。特殊形狀的手機摩擦點的確定由測試工程師和設(shè)計工程師共同確定。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：耐磨點涂層不能脫落，不可露出底材質(zhì)地(對于噴涂、電鍍、IMD);圖案或字體不能缺損、不清晰(對于絲印、按鍵)。
1.4.2.附著力測試(Coating Adhesion Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：噴涂附著力測試
試驗方法：選最終噴涂的手機外殼表面，使用百格刀刻出100個1平方毫米的方格，劃格的深度以露出底材為止，再用3M610號膠帶紙用力粘貼在方格面，1分鐘后迅速以90度的角度撕脫3次，檢查方格面油漆是否有脫落。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：方格面油漆脫落應(yīng)小于3%，并且沒有滿格脫落。
1.4.3.汗液測試(Perspiration Test)
測試環(huán)境：60 oC，95%RH
測試目的：表面抗汗液腐蝕能力
試驗方法：把濾紙放于酸性(PH=2.6)溶液充分浸透，用膠帶將浸有酸性溶液的濾紙粘在樣品噴漆表面，確保試紙與樣品噴漆表面充分接觸，然后放在測試環(huán)境中，在24小時檢查一次，48小時后，將樣品從測試環(huán)境中取出，并且放置2小時后，檢查樣品表面噴漆。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：噴漆表面無變色、起皮、脫落、褪色等異常。
1.4.4.硬度測試(Hardness Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
測試目的：表面噴涂硬度測試
試驗方法：用2H鉛筆，在45度角下，以1Kg的力度在樣品表面從不同的方向劃出3~5cm長的線條3~5條。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：用橡皮擦去鉛筆痕跡后，在油漆表面應(yīng)不留下劃痕。
1.4.5. 鏡面摩擦測試(Lens Scratch Test)
測試環(huán)境: 室溫(20~25° C);
測試目的：鏡面抗劃傷測試
試驗方法：用Scratch Tester將實驗樣品固定在實驗機上，用載重(load)為500g的力在樣品表面往復(fù)劃傷50次。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：鏡面表面劃傷寬度應(yīng)不大于100μm(依靠目視分辨、參照缺陷限度樣板)
1.4.6 紫外線照射測試(UV illuminant Test)
測試環(huán)境：50° C
測試目的：噴涂抗紫外線照射測試
試驗方法：在溫度為50° C，紫外線為340W/mm2的光線下直射油漆表面48小時。試驗結(jié)束后將手機外殼取出，在常溫下冷卻2小時后檢查噴漆表面。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：油漆表面應(yīng)無褪色，變色，紋路，開裂，剝落等現(xiàn)象。
1.5.1. 低溫跌落試驗(Low temperature Drop Test)
測試環(huán)境：-10° C
樣機數(shù)量: 3臺
測試目的：樣機低溫跌落測試
試驗方法：將手機進(jìn)行電性能參數(shù)測試后處于開機狀態(tài)放置在-10° C的低溫試驗箱內(nèi)1小時后取出，進(jìn)行1.2米的6個面跌落，2個循環(huán)，要求3分鐘內(nèi)完成跌落，方法同常溫跌落。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機外觀，結(jié)構(gòu)，功能和電性能參數(shù)符合要求。
1.5.2. 扭曲測試(Twist Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
樣機數(shù)量: 2臺
測試目的：抗扭曲測試
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，固定在扭曲試驗機上，用2N m力矩反復(fù)扭曲手機1000次。對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
1.5.3. 坐壓測試(Squeeze Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
樣機數(shù)量: 2臺
測試目的：抗坐壓測試
試驗方法：將手機處于開機狀態(tài)，放置在坐壓試驗機上，用45Kg力反復(fù)擠壓手機1000次。 對于滑蓋手機，應(yīng)將一半樣品滑開到上限位置。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機沒有變形,外觀無異常，各項功能正常。
1.5.4. 鋼球跌落測試(Ball Drop Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);100g鋼球。
樣機數(shù)量: 2臺
測試目的：鏡蓋強度測試
試驗方法：鏡蓋表面：用100g鋼球，從20cm高處，以初速度為0的狀態(tài)，垂直打擊鏡蓋表面。
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機鏡蓋無變形，無裂縫，無破損(允許有白點)， LCD功能正常。
1.6 其他條件測試
樣品標(biāo)準(zhǔn)數(shù)量：5 臺。
測試周期：1 天。
測試流程:
測試標(biāo)準(zhǔn)：
1.6.1螺釘?shù)臏y試(Screw Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
樣機數(shù)量: 3臺
測試目的：螺釘拆裝疲勞測試
試驗方法：將手機平放在試驗臺上用允許的最大扭矩(由設(shè)計工程師和生產(chǎn)工程師提供), 對同一螺釘在同一位置反復(fù)旋動螺釘10次.
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：試驗中和完成后,螺紋沒有變形,損壞,滑絲,用肉眼觀察沒有裂紋; INSERT不能有明顯的松動,劃絲; 螺釘口(包括機械和自攻螺釘)不能有明顯的松動,劃絲
1.6.2掛繩孔強度的測試(Hand Strap Test)
測試環(huán)境：室溫(20~25° C);
樣機數(shù)量: 2臺
測試目的：掛繩孔結(jié)構(gòu)強度測試
試驗方法：將掛繩穿過掛繩孔并以2圈/秒的速率在垂直的平面內(nèi)轉(zhuǎn)動100圈,
然后用拉力計以持續(xù)不斷的力拉手機的掛繩.
檢驗標(biāo)準(zhǔn)：手機的掛繩能容易的穿過掛繩孔(不借助于特殊的工具); 轉(zhuǎn)動手機時,掛繩 孔不能被損壞; 掛繩孔的破壞力不能小于12kgf (111N)
可靠性是指產(chǎn)品在規(guī)定的條件下、在規(guī)定的時間內(nèi)完成規(guī)定的功能的能力。產(chǎn)品在設(shè)計、應(yīng)用過程中，不斷經(jīng)受自身及外界氣候環(huán)境及機械環(huán)境的影響，而仍需要能夠正常工作，這就需要以試驗設(shè)備對其進(jìn)行驗證，這個驗證基本分為研發(fā)試驗、試產(chǎn)試驗、量產(chǎn)抽檢三個部分。
1.其中氣候環(huán)境包含：高溫、低溫、高低溫交變、高溫高濕、低溫低濕、快速溫度變化、溫度沖擊、高壓蒸煮(HAST)、溫升測試、鹽霧腐蝕(中性鹽霧、銅加速乙酸、交變鹽霧)、人工汗液、氣體腐蝕(SO2/H2S/HO2/CL2)、耐焊接熱，沾錫性，防塵等級測試(IP1X-6X)，防水等級測試(IPX1-X8)、阻燃測試，UV老化(熒光紫外燈)、太陽輻射(氙燈老化、鹵素?zé)?、等等;
2.其中機械環(huán)境包含：振動(隨機振動，正弦振動)、機械沖擊、機械碰撞、跌落、斜面沖擊，溫濕度 振動三綜合、高加速壽命測試(HALT)、高加速應(yīng)力篩選(HASS、HASA)、插拔力，保持力，插拔壽命，按鍵壽命測試、搖擺試驗、耐磨測試、附著力測試、百格測試等。
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